BS ISO 25498-2010 微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析

作者:标准资料网时间:2024-05-23 13:52:03 浏览:8761 来源:标准资料网

【英文标准名称】:Microbeamanalysis-Analyticalelectronmicroscopy-Selected-areaelectrondiffractionanalysisusingatransmissionelectronmicroscope
【原文标准名称】:微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析
【标准号】:BSISO25498-2010
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2010-06-30
【实施或试行日期】:2010-06-30
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:分析;分析方法;定义(术语);衍射;电子束;电子衍射;电子显微镜;电子显微镜学;分析法;微量分析;显微术;光学仪器;换算;传输
【英文主题词】:Analysis;Analyticalmethods;Definitions;Diffraction;Electronbeams;Electrondiffraction;Electronmicroscopes;Electronmicroscopy;Methodsofanalysis;Microanalysis;Microscopy;Opticalinstruments;Scaling;Transmission
【摘要】:
【中国标准分类号】:G04
【国际标准分类号】:
【页数】:40P;A4
【正文语种】:英语

下载地址: 点击此处下载

返回跳至顶部

上一篇: BS EN 843-8-2010 高级工业陶瓷.整块陶瓷在室温下的机械性能.传导安全试验导则
下一篇: BS EN 15037-4-2010 预制混凝土制品.梁和建材地板系统.膨胀聚苯乙烯建材块